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改善數(shù)據(jù)采集測量結(jié)果的四種常用校正方法
改善測量結(jié)果需要進行配置、校準以及優(yōu)良的軟件開發(fā)技術(shù)。本文旨在使您了解優(yōu)化測量結(jié)果的軟、硬件技巧，內(nèi)容包括：選擇并配置數(shù)據(jù)采集設(shè)備、補償測量誤差以及采用優(yōu)良的軟件技術(shù)。
圖1：針對信號源的模
擬信號輸入配置選擇指南。
當您將電子信號連接到數(shù)據(jù)采集設(shè)備時，您總是希望讀數(shù)能匹配輸入信號的電氣數(shù)值。但我們知道沒有一種測量硬件是**的，所以為了改善測量結(jié)果我們必須采用*佳的硬件配置。
根據(jù)應(yīng)用需求，您必須首先要明確數(shù)據(jù)采集卡所需的模擬輸入、輸出通道以及數(shù)字I/O線的*少數(shù)目。其次還要考慮的重要因素有：采樣率、輸入范圍、輸入方式和精度。
**個要考慮的問題是現(xiàn)場接線，根據(jù)您要采集的信號源類型，您可以使用差分、非參考單端、參考單端三種輸入方式來配置數(shù)據(jù)采集卡。
總的說來，差分測量系統(tǒng)較為可取，因為它能消除接地環(huán)路感應(yīng)誤差并能在一定程度上削弱由環(huán)境引起的噪聲。而另一方面，單端輸入方式提供兩倍數(shù)據(jù)采集通道數(shù)，可是僅適用于引入誤差比數(shù)據(jù)所需精度小的情況。圖1為選擇合適的信號源模擬輸入方式提供了指導
選擇合適的增益系數(shù)也是非常重要的。保證數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品進行**采集和轉(zhuǎn)換所設(shè)定的電壓范圍叫做輸入信號范圍。為得到*佳的測量精度，使模擬信號的*大*小值盡可能占滿整個ADC(+/-10V或0-10V)范圍，這樣就可使測量結(jié)果充分利用現(xiàn)有的數(shù)字位。
在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中選擇合適的增益
圖2表示同在10V的輸入范圍下使用不同的增益系數(shù)，輸入5V信號得到的采集結(jié)果。請注意：選取合適的增益系數(shù)能夠充分利用ADC并改善您的測試結(jié)果。
任何測量結(jié)果都只是您要測量的“真實值”的估計值，事實上您永遠也無法**地測量出真實值。這是因為您測量的準確性會受到物理因素的限制，而且測量的精度也取決于這種限制。
圖2：數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的增益選擇。
在特定的范圍內(nèi)，16位數(shù)據(jù)采集卡有216(65536)種數(shù)值，而12位數(shù)據(jù)采集卡有212 (4096)種數(shù)值。理想情況下，這些數(shù)值在整個測量范圍內(nèi)是均勻分布的，而且測量硬件會把實際測量值取整成*接近的數(shù)值并返回計算機內(nèi)存。事實上有許多人認為，這種取整誤差(通常稱為量化誤差)是決定精度的**因素。實際上，這種量化誤差，在 12位多功能數(shù)據(jù)采集卡中只占總誤差的35%，而在類似的16位卡中就更微不足道了。不管您使用12位還是16位數(shù)據(jù)采集卡，都不能只考慮這種量化誤差。
放大器中的缺陷，如電阻器容限和模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換特性，都會產(chǎn)生增益誤差。這種誤差通常以總讀數(shù)的百分比表示。為了補償這部分誤差，您可以進行內(nèi)部校準。內(nèi)部校準不僅能夠補償增益誤差還能補償溫度變化引起的誤差。這需要一個帶有溫度相關(guān)誤差容限的板載參考源。數(shù)據(jù)采集設(shè)備和其它類型的傳統(tǒng)儀器都采用內(nèi)部校準，通常也被稱為自校準。
E系列校準VI
在LabVIEW中，您可以使用“E系列校準VI(E-Series Calibrate VI)”來對數(shù)據(jù)采集設(shè)備進行校準(圖3)。一旦板卡處于工作環(huán)境，經(jīng)常校準能確保***、*穩(wěn)定及可重復(fù)的測量結(jié)果，在自校準過程中可對模擬輸入和模擬輸出都能完成自校準。
由于有增益前偏差、增益后偏差和增益誤差校準，自校準會建立一個校準常數(shù)集合。完成一次校準之后，新的校準常數(shù)將被加載到板卡的存儲器上。舊的校準常數(shù)可以保存到EEPROM中，這樣在必要時可以重新加載。一旦板卡停止供電，如果還需要校準常數(shù)，那保存工作則是非常重要的。如果沒有把校準常數(shù)保存到EEPROM中，關(guān)閉計算機之后這些數(shù)據(jù)就丟失了。
圖3：對數(shù)據(jù)采集設(shè)備進行校準。
放大器的缺陷或者模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換會產(chǎn)生非線性誤差。在輸入范圍內(nèi)，增益系數(shù)的微小變化就會產(chǎn)生非線性誤差，這種誤差一般表示為滿量程的百分數(shù)。到現(xiàn)在還沒有一種簡單的校準方法能夠補償這種非線性誤差。因此仔細挑選數(shù)據(jù)采集卡是非常關(guān)鍵的。設(shè)備的相關(guān)精度表示非線性誤差的總值，相關(guān)精度定義為數(shù)據(jù)采集設(shè)備測量精度的*低有效位數(shù)。它包括所有非線性誤差和量化誤差，不包括偏差和增益誤差。知道了數(shù)據(jù)采集卡的相關(guān)精度就可以為所有讀數(shù)建立容限。
為進一步提高測試結(jié)果的精度，還必須補償任何偏移誤差。偏移誤差在輸入范圍內(nèi)是不變的，因此，糾正起來相對容易些。您可以先測量短路通道的偏移誤差，然后用以后的讀數(shù)減去這個值。
采用優(yōu)良的軟件技術(shù)
提高讀數(shù)精度的一種很好的軟件技術(shù)就是求平均值。求平均值的前提是噪聲和測量誤差是隨機的，因此，根據(jù)中心極限定理，誤差服從正態(tài)分布(高斯分布)。選取多個點后呈高斯分布，計算出平均值，平均值在統(tǒng)計上非常接近真實值。因此，所選取的要平均的點越多，平均值的標準偏差就越小。因為標準偏差會隨著樣本數(shù)量增加而減小，所以應(yīng)當盡可能提高用于平均的采樣點數(shù)。
定期的自校準也是一種好方法，它能夠在任何時候保持測量精度。執(zhí)行定期內(nèi)部校準(建議每天進行)可以補償溫度和環(huán)境變化引起的誤差。
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